常用的白刚玉砂粒度检测方法有一下几种:激光法。优点:操作简便,测试速度快,测试范围广,重复性和准确性好,一级白刚玉细粉可进行在线测量和干法测量。缺点:结果受分布模型影响较大,仪器造价较高,分辨力低。沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。优点:操作渐变,仪器可以连续运行,价格低,准确性和重复性较好,测试范围较广。缺点:测试时间较长,操作比较繁琐。透气法。优点:仪器价格低。温州白刚玉细粉不用对样品进行分散,可测测性材料粉体。缺点:只能得到平均粒度值,不能测粒度分布;不能测小于5um细粉。电子显微镜法。优点:适合测试超新颗粒甚至纳米颗粒,分辨力高,可进行形貌和结构分析,缺点:样品少,代表性差,测量易受人为因素影响,仪器价格昂贵。电阻法。优点:操作渐变可测颗粒数,等效概念明确,速度快,准确性好。缺点:不适合测量小于0.1um的颗粒样品,对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。光阻法。优点:测试便捷快速,可测液体或气体中颗粒数,分辨力高。缺点:不适用粒径小于1umde样品,进行系统比较讲究,仅适合对尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量,对一般粉体用的不多。
白刚玉磨料适用于各种高端产品,工艺或者五金等产品表面美化处理,喷砂后表面洁白无任何杂质,免去清洗烦恼。细号白刚玉可用作抛光研磨之首。也可用做各种产品添加剂。可做固及涂附磨具,湿式或干或喷射砂,适合晶体,电子行业的超精研磨和抛光及制做高级耐火材料等。一级白刚玉细粉直销适合加工淬火钢,合金钢,高速钢,高碳钢等硬度较硬,抗张强度较大的材料。还可用做触媒体,绝缘体以及精密铸造砂等。 铁质工件去锈、除污、除氧化皮,增大镀层、涂层附着力; 铝质工件去氧化皮,表面强化、光饰作用; 铜质工件去氧化皮亚光效果、玻璃制品水晶磨砂、刻图案 塑胶制品亚光效果、牛仔布等特殊面料毛绒加工及效果图案表面加工:金属氧化层,碳化物黑皮,金属或非金属表面污锈清除,如重力压铸模,橡胶模之氧化物或离形剂之去除,陶瓷表面黑点,铀色去除,彩绘重生。美化加工:各种黄金,K金饰品,贵金属制品之消光或雾面处理,水晶,玻璃,波纹,压克力等非金属之雾面加工以及能使加工物表面成金属光泽。白刚玉细粉直销蚀刻加工:玉石,水晶,玛瑙,半宝石,印章,雅石,古董,大理石墓碑,陶瓷,木材,竹片等之蚀刻美工。前处理加工:铁氟龙(TEFLON),PU,橡胶,塑料被覆,橡胶滚桶(ROLLER),电镀,金属喷焊,镀钛等之前处理,使表面附着力增加。毛边加工:电木,塑料,锌,铝压铸品,电子零件,磁芯等之毛边去除。应力消除加工:航天,国防,精密工业之零件,除锈,除漆消光,整修等之应力消除加工处理。
表面加工:金属氧化层,碳化物黑皮,金属或非金属表面污锈清除,如重力压铸模,橡胶模之氧化物或离形剂之去除,陶瓷表面黑点,铀色去除,彩绘重生。一级白刚玉细粉美化加工:各种黄金,K金饰品,贵金属制品之消光或雾面处理,水晶,玻璃,波纹,压克力等非金属之雾面加工以及能使加工物表面成金属光泽。蚀刻加工:玉石,水晶,玛瑙,半宝石,印章,雅石,古董,大理石墓碑,陶瓷,木材,竹片等之蚀刻美工。白刚玉细粉直销前处理加工:铁氟龙(TEFLON),PU,橡胶,塑料被覆,橡胶滚桶(ROLLER),电镀,金属喷焊,镀钛等之前处理,使表面附着力增加。毛边加工:电木,塑料,锌,铝压铸品,电子零件,磁芯等之毛边去除。应力消除加工:航天,国防,精密工业之零件,除锈,除漆消光,整修等之应力消除加工处理。
白刚玉磨料是一种人造磨料,它的制作方法非常的复杂,采用特殊的冶炼工艺制成,白刚玉再经过粉碎整形,磁选去铁等工艺处理,筛分成多种粒度.筛分法。优点:简单、直观、设备造价低,常用于大于40um的样品。缺点:结果受人为因素和筛孔变形影响较大。显微镜(图像)法。优点:简单、直观,可进行形貌分析,温州白刚玉细粉直销适合分布窄(大和小粒径的比值小于10:1)的样品。缺点:代表性差,分析分布范围宽的样品比较麻烦,无法分析小于1um的样品。沉降法(包括重力沉降和李新沉降)。优点:操作渐变,仪器可以连续运行,价格低,准确性和重复性较好,测试范围较广。缺点:测试时间较长,操作比较繁琐。电阻法。优点:操作渐变可测颗粒数,等效概念明确,速度快,准确性好。缺点:不适合测量小于0.1um的颗粒样品,对粒度分布宽的样品更换小孔管比较麻烦。激光法。优点:操作简便,测试速度快,测试范围广,白刚玉细粉直销重复性和准确性好,可进行在线测量和干法测量。缺点:结果受分布模型影响较大,仪器造价较高,分辨力低。电子显微镜法。优点:适合测试超新颗粒甚至纳米颗粒,分辨力高,可进行形貌和结构分析,缺点:样品少,代表性差,测量易受人为因素影响,仪器价格贵。光阻法。优点:测试便捷快速,可测液体或气体中颗粒数,分辨力高。缺点:不适用粒径小于1umde样品,进行系统比较讲究,仅适合对尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量,对一般粉体用的不多。透气法。优点:仪器价格低。不用对样品进行分散,可测测性材料粉体。缺点:只能得到平均粒度值,不能测粒度分布;不能测小于5um细粉。X射线小角散射法。用于纳米级颗粒的粒度测量。白刚玉磨料光子相关谱法(动态光散射法)。用于纳米级颗粒的粒度测量。